中国地质学会岩矿测试技术专业委员会、国家地质实验测试中心主办

高分辨扫描电镜和X射线能谱Mapping技术研究碲矿物的成分和形态特征

胡勇平, 于学峰, 郑林伟, 郑遗凡. 高分辨扫描电镜和X射线能谱Mapping技术研究碲矿物的成分和形态特征[J]. 岩矿测试, 2015, 34(6): 643-651. doi: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.06.007
引用本文: 胡勇平, 于学峰, 郑林伟, 郑遗凡. 高分辨扫描电镜和X射线能谱Mapping技术研究碲矿物的成分和形态特征[J]. 岩矿测试, 2015, 34(6): 643-651. doi: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.06.007
HU Yong-ping, YU Xue-feng, ZHENG Lin-wei, ZHENG Yi-fan. Application of High-resolution Scanning Electron Microscope and X-ray Energy Dispersive Spectroscope Mapping Technique to Study the Composition and Morphology of Tellurium Minerals[J]. Rock and Mineral Analysis, 2015, 34(6): 643-651. doi: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.06.007
Citation: HU Yong-ping, YU Xue-feng, ZHENG Lin-wei, ZHENG Yi-fan. Application of High-resolution Scanning Electron Microscope and X-ray Energy Dispersive Spectroscope Mapping Technique to Study the Composition and Morphology of Tellurium Minerals[J]. Rock and Mineral Analysis, 2015, 34(6): 643-651. doi: 10.15898/j.cnki.11-2131/td.2015.06.007

高分辨扫描电镜和X射线能谱Mapping技术研究碲矿物的成分和形态特征

  • 基金项目: 国家自然科学基金资助项目(41372086);中国地质大调查项目(12120113015100);国土资源部黏土矿物重点实验室开放课题(2014-K4)
详细信息
    作者简介: 胡勇平,教授级高级工程师,从事岩矿分析和应用研究。E-mail: dzkcyjs@aliyun.com
    通讯作者: 郑遗凡,教授,矿物及材料表征和应用研究。E-mail: zhengyifan@zjut.edu.cn
  • 中图分类号: P578.15;P575.2;P575.5

Application of High-resolution Scanning Electron Microscope and X-ray Energy Dispersive Spectroscope Mapping Technique to Study the Composition and Morphology of Tellurium Minerals

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出版历程
收稿日期:  2015-08-19
修回日期:  2015-10-22
录用日期:  2015-11-09
刊出日期:  2015-06-25

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