应用XRF分析仪快速分析铁精矿中的Si、 S、K和TFe含量

应用XRF分析仪快速分析铁精矿中的Si、 S、K和TFe含量

, ,

文章导航 > 物探与化探 > 2002 > (4): 312-314

肖刚毅, 赖万昌, 葛良全. 应用XRF分析仪快速分析铁精矿中的Si、 S、K和TFe含量[J]. 物探与化探, 2002, (4): 312-314. doi: 10.3969/j.issn.1000-8918.2002.04.017

引用本文:

肖刚毅, 赖万昌, 葛良全. 应用XRF分析仪快速分析铁精矿中的Si、 S、K和TFe含量[J]. 物探与化探, 2002, (4): 312-314. doi: 10.3969/j.issn.1000-8918.2002.04.017

THE APPLICATION OF XRF RAPID ANALYZER TO DETERMINING Si,S,K AND TFe CONTENT OF IRON ORE CONCENTRATES[J]. Geophysical and Geochemical Exploration, 2002, (4): 312-314. doi: 10.3969/j.issn.1000-8918.2002.04.017

Citation:

THE APPLICATION OF XRF RAPID ANALYZER TO DETERMINING Si,S,K AND TFe CONTENT OF IRON ORE CONCENTRATES[J]. Geophysical and Geochemical Exploration, 2002, (4): 312-314. doi: 10.3969/j.issn.1000-8918.2002.04.017

应用XRF分析仪快速分析铁精矿中的Si、 S、K和TFe含量

成都理工大学,应用核技术与自动化工程学院,四川,成都,610059

成都理工大学,应用核技术与自动化工程学院,四川,成都,610059

成都理工大学,应用核技术与自动化工程学院,四川,成都,610059

详细信息

中图分类号: P575.6

刊出日期: 2002-08-24

THE APPLICATION OF XRF RAPID ANALYZER TO DETERMINING Si,S,K AND TFe CONTENT OF IRON ORE CONCENTRATES

Publish Date: 24 August 2002

摘要: 论述了快速分析铁精矿中Si、S、K和TFe含量的现场X射线荧光技术,其分析精度、准确度均符合化学分析的误差标准,满足实际生产要求.
- X射线荧光分析 /
- 铁精矿 /
- 现场快速分析

资源附件(0)

计量

文章访问数: 235
PDF下载数: 34
施引文献: 0

/

下载: 全尺寸图片幻灯片

分享

用微信扫码二维码

分享至好友和朋友圈

返回