X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素

X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素

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杨丽峰, 李小莉, 李国会, 安树清. X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素[J]. 华北地质, 2009, (1): 64-68. doi: 10.3969/j.issn.1672-4135.2009.01.011

引用本文:

杨丽峰, 李小莉, 李国会, 安树清. X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素[J]. 华北地质, 2009, (1): 64-68. doi: 10.3969/j.issn.1672-4135.2009.01.011

Determination of Major and Minor Elements in Tungsten Ores by X-ray Fluorescence Spectrometry[J]. North China Geology, 2009, (1): 64-68. doi: 10.3969/j.issn.1672-4135.2009.01.011

Citation:

Determination of Major and Minor Elements in Tungsten Ores by X-ray Fluorescence Spectrometry[J]. North China Geology, 2009, (1): 64-68. doi: 10.3969/j.issn.1672-4135.2009.01.011

X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素

中国地质科学院,北京100037;天津地质矿产研究所,天津300170

天津地质矿产研究所,天津,300170

中国地质科学院物化探所,河北廊坊,065000

天津地质矿产研究所,天津,300170

基金项目:
国家地质大调查项目

详细信息

中图分类号: O657.34

刊出日期: 2009-03-25

Determination of Major and Minor Elements in Tungsten Ores by X-ray Fluorescence Spectrometry

Publish Date: 25 March 2009

摘要: 本文中笔者采用熔融玻璃片法制样,使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素,所用校准标样是用符合国家一级标准的物质由人工配制而成,并用理论α系数内标法及康普顿散射作内标校正基体效应,其分析结果与标准值相符.精密度统计结果显示,主、次量组分方法精密度(RSD,n=10)为0.371%~6.806%.该方法做到了简便、快捷、经济且减少环境污染.
- X射线荧光光谱法 /
- 熔融片 /
- 熔剂 /
- 钨矿石

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