“K”反射系数法在低电阻率地质背景下的应用研究

邬健强,刘磊,洪旭程,刘道涵,刘永亮. 2022. “K”反射系数法在低电阻率地质背景下的应用研究. 华南地质, 38(2): 312-320. doi: 10.3969/j.issn.2097-0013.2022.02.012
引用本文: 邬健强,刘磊,洪旭程,刘道涵,刘永亮. 2022. “K”反射系数法在低电阻率地质背景下的应用研究. 华南地质, 38(2): 312-320. doi: 10.3969/j.issn.2097-0013.2022.02.012
WU Jian-Qiang. 2022. Application of “K” Reflection Coefficient Method in Low Resistivity Geological Background. South China Geology, 38(2): 312-320. doi: 10.3969/j.issn.2097-0013.2022.02.012
Citation: WU Jian-Qiang. 2022. Application of “K” Reflection Coefficient Method in Low Resistivity Geological Background. South China Geology, 38(2): 312-320. doi: 10.3969/j.issn.2097-0013.2022.02.012

“K”反射系数法在低电阻率地质背景下的应用研究

  • 基金项目:

    中国地质调查局项目(DD20221634、DD20221755)、国家自然科学基金(42107485)

详细信息
    作者简介: 邬健强(1990—),男,硕士,工程师,主要从事地球物理勘探方法的应用研究,E-mail:wjqkarst@karst.ac.cn
  • 中图分类号: P631

Application of “K” Reflection Coefficient Method in Low Resistivity Geological Background

  • 高密度电阻率法因其成本低、效率高等优点而被广泛应用,而对于低电阻率地质背景的区域,如白垩系粉砂岩分布区,其效果并不理想甚至无法分辨有效异常。基于此,笔者通过两个不同地质背景的实例,将高密度电阻率法的结果与通过“K”反射系数法处理后的结果进行了对比应用研究,研究结果表明:(1)相比视电阻率剖面图,“K”反射系数法得到的“K”剖面图能够有效的放大深部地质弱信号,突出局部异常,且异常位置与钻孔结果对应良好;(2)相比钻孔处的单支视电阻率测深曲线,“K”反射系数法得到的单支“K”曲线对地下的解释更加精细,分辨率更高。
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出版历程
收稿日期:  2022-01-25
修回日期:  2022-03-26

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