痕量硼的精确测定和分光光度法中过量显色剂隐色机理讨论

朱玉伦, 邵济馨. 痕量硼的精确测定和分光光度法中过量显色剂隐色机理讨论[J]. 地球学报, 1987, (01): 0-0.
引用本文: 朱玉伦, 邵济馨. 痕量硼的精确测定和分光光度法中过量显色剂隐色机理讨论[J]. 地球学报, 1987, (01): 0-0.

痕量硼的精确测定和分光光度法中过量显色剂隐色机理讨论

  • 本文就测定痕量硼的新方法做了讨论,提出过量显色剂隐色新体系并探讨了反应机理。方法以铍试剂Ⅲ为硼的显色剂、氯化亚锡为隐色剂、TEA-EDTA为稳定剂。显色后隐色测定灵敏度为S=2.9×10-4μgcm-2,εB=3.8×104。隐色-导数光谱法测量,校准曲线最低点由隐色后测定的4ppb降至0.8ppb,计算表观摩尔吸收系数εB=1.9×105。本文所述方法为迄今水相测定硼的方法中显色速度最快,对比度最大、灵敏度最高的方法。应用于岩矿分析取得满意结果。
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出版历程
刊出日期:  1987-02-01

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