浅地层剖面测量在海洋井场调查中的应用和解释

李长勤, 蔡春麟, 周政, 施健, 胡斌. 浅地层剖面测量在海洋井场调查中的应用和解释[J]. 海洋地质前沿, 2014, 30(9): 59-63.
引用本文: 李长勤, 蔡春麟, 周政, 施健, 胡斌. 浅地层剖面测量在海洋井场调查中的应用和解释[J]. 海洋地质前沿, 2014, 30(9): 59-63.
LI Changqin, CAI Chunlin, ZHOU Zheng, SHI Jian, HU Bin. THE APPLICATION OF THE SHALLOW PROFILING TO OFFSHORE WELL-SITE SURVEY AND DATA INTERPRETATION[J]. Marine Geology Frontiers, 2014, 30(9): 59-63.
Citation: LI Changqin, CAI Chunlin, ZHOU Zheng, SHI Jian, HU Bin. THE APPLICATION OF THE SHALLOW PROFILING TO OFFSHORE WELL-SITE SURVEY AND DATA INTERPRETATION[J]. Marine Geology Frontiers, 2014, 30(9): 59-63.

浅地层剖面测量在海洋井场调查中的应用和解释

详细信息
    作者简介: 李长勤(1976-),男,工程师,主要从事海洋工程地质调查研究工作.E-mail:lcq0936@sina.com
  • 中图分类号: P751;P736

THE APPLICATION OF THE SHALLOW PROFILING TO OFFSHORE WELL-SITE SURVEY AND DATA INTERPRETATION

  • 浅地层剖面测量广泛应用于各种海洋工程项目中,对于查明海底沉积结构、沉积环境和浅部潜在的地质灾害因素等具有不可或缺的作用。海洋井场调查是海洋油气勘探开发中一个重要过程,其调查结果将对平台插桩安全和钻探作业顺利进行产生很大影响。因此,需要充分了解浅剖技术原理、资料的质量影响因素和资料的解释过程,以及如何与钻探资料相结合,以满足井场调查的要求。
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出版历程
收稿日期:  2014-05-19

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