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摘要: 采用小光栏、窄狭缝进行原子发射光谱分析测定地质样品中的微量钥比用现行发射光谱法分析铝的技术条件所获得的分析结果准确度高，分析含量范围大，方法简便、快速、成本低，可成功地用于大批量地质样品中（互～200）X10－’铝的测定。
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张文英, 杨胜科. 地质样品中微量钼的发射光谱法测定[J]. 西北地质, 1997, (03): 0-0.
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