岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定
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摘要: 用X-荧光光谱测定岩石中低量稀土元素的仪器参数和测定条件,文已作过讨论。本文介绍样品分析所采用的基本校正,谱线重叠校正和背景处理方法,并将这些方法应用于其他少量和痕量元素的测定。
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| 引用本文: |
梁国立, 王毅民. 岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定[J]. 岩矿测试, 1984, 3(1): 58-63.
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