控制试样法在化探样品光谱分析中的应用
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摘要: 控制试样法在冶金钢铁分析中的应用已有介绍,该法具有简便快速节约等优点,然而在地质样品分析中却很少应用。本文结合化探样品的特点,对该法在化探样品光谱分析中的应用做了尝试。由于控制试样法仅与所带的控制样品有关,而与谱板的乳剂性质无关。本法在应用于化探样品Ag、Li、Pb、Sn、Mo、B六种元素的光谱测定中取得了满意的结果。各元素的相对标准偏差为7—13％,精密度略优于三标准试样法。通过对地球化学标准样的分析,本法的测定结果与推荐值接近,△logC多数在±0.1以内。
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