X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素

文章导航 > 岩矿测试 > 1987 > 6(2): 113-116

翟秋福. X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素[J]. 岩矿测试, 1987, 6(2): 113-116.

引用本文:

翟秋福. X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素[J]. 岩矿测试, 1987, 6(2): 113-116.

刊出日期: 1987-04-28

Publish Date: 28 April 1987

摘要: 岩石化探样中主要和痕量元素的测定,目前多半以ICP或XRF法为主,二种测试手段各有优势。本文应用8680X-射线光谱仪测定氧化镁,氧化铝,氧化硅,磷,氧化钾,氧化钙,氧化铁,氧化钠,钛,锰,锌,钒,铬,铷,铌,钇,锶,锆等元素。8680型系顺序/多道复合式X-射线光谱仪。试验证明,本方法简易、快速,结果满意。方法的变动系数最大为14.24％(Nb=15ppm),最小为0.01％(SiO2=77.27％)。

/