滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡

滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡

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荆照政, 张博仪. 滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡[J]. 岩矿测试, 1990, 9(4): 272-273.

引用本文:

荆照政, 张博仪. 滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡[J]. 岩矿测试, 1990, 9(4): 272-273.

Determination of W and Sn by Paper Substrate-XRFA[J]. Rock and Mineral Analysis, 1990, 9(4): 272-273.

Citation:

Determination of W and Sn by Paper Substrate-XRFA[J]. Rock and Mineral Analysis, 1990, 9(4): 272-273.

滤纸薄样片—X射线荧光光谱法测定钨和锡

湖南省矿产测试利用研究所长沙410007 荆照政，张博仪，湖南省矿产测试利用研究所长沙410007 刘雪珍

刊出日期: 1990-08-28

Determination of W and Sn by Paper Substrate-XRFA

Publish Date: 28 August 1990

摘要: 本文用蜡环成形滤纸定量吸附由微量进样器分取的50μl试液,制成薄样进行X射线荧光光谱分析,实现了对样品中高含量WO_3、SnO_2的定量测定。被测组份的荧光强度与浓度在0—500μg/50μl范围内有良好线性关系。方法操作简单、制样速度快、成本低、稳定性好。
- 滤纸 /
- X射线 /
- 荧光光谱法 /
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- XRF /
- SnO_2 /
- and

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