X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值

X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值

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孙伟莹, 谭秉和. X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值[J]. 岩矿测试, 1998, 17(3): 193-196.

引用本文:

孙伟莹, 谭秉和. X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值[J]. 岩矿测试, 1998, 17(3): 193-196.

Determination of Average Atomic Valence of Vanadium by XRF[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, 17(3): 193-196.

Citation:

Determination of Average Atomic Valence of Vanadium by XRF[J]. Rock and Mineral Analysis, 1998, 17(3): 193-196.

X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值

北京科技大学化学系

基金项目:
冶金部重点科研项目

修回日期: 1997-01-28

刊出日期: 1998-06-28

Determination of Average Atomic Valence of Vanadium by XRF

Revised Date: 28 January 1997

Publish Date: 28 June 1998

摘要: 用Ｘ射线荧光光谱法测定了一系列钒的氧化物混合物中Ｖ的Ｋβ谱线的精细结构，研究了钒的氧化物中Ｋβ谱峰参数随混合物平均原子价变化的规律，并利用所作的定标曲线对一些实际样品，如钒渣、磁铁矿中钒的平均原子价进行了定量测定。
- 钒 /
- X射线荧光光谱 /
- 价态分析
- vanadium /
- X

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