中国地质学会岩矿测试技术专业委员会、国家地质实验测试中心主办

我国地质分析中X射线光谱技术的回顾与展望

王晓红, 王毅民. 我国地质分析中X射线光谱技术的回顾与展望[J]. 岩矿测试, 2000, 19(4): 275-285.
引用本文: 王晓红, 王毅民. 我国地质分析中X射线光谱技术的回顾与展望[J]. 岩矿测试, 2000, 19(4): 275-285.
The Review and Prospect on X-Ray Spectrometry in Geoanalysis in China[J]. Rock and Mineral Analysis, 2000, 19(4): 275-285.
Citation: The Review and Prospect on X-Ray Spectrometry in Geoanalysis in China[J]. Rock and Mineral Analysis, 2000, 19(4): 275-285.

我国地质分析中X射线光谱技术的回顾与展望

The Review and Prospect on X-Ray Spectrometry in Geoanalysis in China

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出版历程
修回日期:  2000-07-07
刊出日期:  2000-08-28

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