弱碱性阴离子树脂分离富集-发射光谱法测定痕量钯

修回日期: 2006-12-11

刊出日期: 2007-10-28

Determination of Trace Palladium by Emission Spectrometry with Alkalescence Anion Resin Pre-concentration

Revised Date: 11 December 2006

Publish Date: 28 October 2007

摘要: 在盐酸介质中，钯与氯离子发生反应生成配合物[PdCl6]^2-，该配合物能被大孔弱碱性苯乙烯系阴离子交换树脂吸附。吸附物灰化后，灰分与缓冲剂混合均匀，全部装入杯形电极，发射光谱法测定钯。方法检出限为0．12ng／g（10．0g样品）。方法经国家一级标准物质验证，测定值与标准值相符，精密度（RSD，n=12）为8．9％～13．9％，回收率为89％～118％。方法已用于测定水系沉积物中的痕量钯。
- 弱碱性阴离子树脂 /
- 分离富集 /
- 钯 /
- 发射光谱
- D301G /
- resin /